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Você está aqui: Plataforma de Microscopia Eletrônica Rudolf Barth

Plataforma de Microscopia Eletrônica Rudolf Barth

Coordenadores:
Rubem Menna-Barreto
Wendell Girard-Dias

Equipe:
Genézio Lopes
José Lopes
Roger Magno
Rômulo Custódio

Localização:
Pav. Carlos Chagas, Térreo

Contatos:
(21) 2562-1330
Email Plataforma: electron@ioc.fiocruz.br
Email Coordenadores: coordenacaopme@ioc.fiocruz.br

Equipamentos (modelos):

1. Aparelho de ponto crítico Tousimis Autosamdri-815 
Secagem de amostras para microscopia eletrônica de varredura

2. Aparelho de ponto crítico Balzers CPD030 
Secagem de amostras para microscopia eletrônica de varredura

3. Metalizador Denton Desk IV 
Cobertura de Ouro ou Platina em amostras para microscopia eletrônica de varredura

4. Metalizador Cressington 108
Cobertura de Ouro ou Platina em amostras para microscopia eletrônica de varredura

5. Microscópio Eletrônico de Varredura (JEOL-JSM-6390-LV)
Filamento de tungstênio. Operação em até 30KV. Equipado com detectores de elétrons retroespalhados e microanálise de raios-X. Utilizado para observação da superfície de amostras pela detecção de elétrons secundários ou retroespalhados. O detector de raios-X possibilita a detecção qualitativa da composição química das amostras de forma pontual ou por mapeamento de elementos

6. Microscópio Eletrônico de Varredura de Alta Resolução (JEOL- JSM-6701)
Canhão de emissão de campo. Operação em até 30KV. Equipado com detector de elétrons retroespalhados. Utilizado para observação da superfície de amostras pela detecção de elétrons secundários ou retroespalhados em alta resolução. Possibilita a observação de amostras processadas para imunomarcação com anticorpos conjugados com ouro coloidal

7. Microscópio Eletrônico de Transmissão (JEOL- JEM-1011)
Filamento de tungstênio .Operação em até 100KV. Câmera CCD: Gatan Orius (side-mounted). Utilizado para observação de cortes ultrafinos de amostras

8. Microscópio Eletrônico de Transmissão Hitachi HT7800
Filamento de tungstênio ou LaB6.Operação em até120KV. Câmera CMOS: AMT NanosSprint43 Mark II (bottom-mounted). Utilizado para observação de cortes ultrafinos de amostras. O goniômetro automatizado possibilita a aquisição de séries tomográficas para reconstrução tridimensional.

9. Ultramicrótomo LEICA Ultracut UCT 
Obtenção de cortes semifinos e ultrafinos para observação por microscopia eletrônica de transmissão

10. Ultramicrótomo LEICA EM UC7 
Obtenção de cortes semifinos e ultrafinos para observação por microscopia eletrônica de transmissão. Ultramicrótomo equipado com o sistema Leica EM FC7 para obtenção de cortes congelados (crioultramicrotomia)

11. Vaporizador de carbono Balzers MED010 
Cobertura de Carbono em amostras para microscopia eletrônica de varredura

Serviços oferecidos:
1. Análise pelo Microscópio Eletrônico de Transmissão JEOL- JEM-1011
2. Análise pelo Microscópio Eletrônico de Transmissão HITACHI - HT7800
3. Análise pelo Microscópio Eletrônico de Varredura JEOL-JSM-6390-LV
4. Análise pelo Microscópio Eletrônico de Varredura JEOL-JSM-FEG 6701F
5. Contrastação por acetato de uranila e citrato de chumbo
6. Metalização com Ouro ou Platina para MEV
7. Ponto Crítico para MEV
8. Revestimento de grades com Colódio
9. Ultramicrotomia para obtenção de corte semi-fino e ultra-fino
10. Vaporização com Carbono para MEV

Para cadastros e acesso aos serviços:
A página Agendamentos PME disponibiliza todos os documentos e formulários necessários para cadastro e solicitação de serviços e agendamento de equipamentos, bem como procedimentos de processamento de rotina.

Procedimento para novos usuários:
1. Acessar a página Agendamentos PME e preencher a Ficha de Cadastro
2. Enviar para o email electron@ioc.fiocruz.br somente o Termo de Ciência referente às regras de uso da Plataforma, devidamente preenchido e assinado. As regras de uso podem ser acessadas na página Agendamentos PME 
3. Aguardar a confirmação da equipe para liberação do agendamento dos equipamentos e serviços

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